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艾思荔油墨pct高壓壽命老化試驗機又稱為高壓加速老化試驗機,試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。半導體的測試:最主要是測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰,待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試,如果半導體封裝的不好,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因:爆米花效應(yīng)、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路、、等相關(guān)問題。
油墨pct高壓壽命老化試驗機針對jesd22-a102的試驗說明:
用來評價非氣密封裝器件在水汽凝結(jié)或飽和水汽環(huán)境下抵御水汽的完整性。樣品在高壓下處于凝結(jié)的、高濕度環(huán)境中,以使水汽進入封裝體內(nèi),暴露出封裝中的弱點,如分層和金屬化層的腐蝕。該試驗用來評價新的封裝結(jié)構(gòu)或封裝體中材料、設(shè)計的更新。 應(yīng)該注意,在該試驗中會出現(xiàn)一些與實際應(yīng)用情況不符的內(nèi)部或外部失效機制。由于吸收的水汽會降低大多數(shù)聚合物材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度,當溫度高于玻璃化轉(zhuǎn)變溫度時,可能會出現(xiàn)非真實的失效模式。
外引腳錫短路:封裝體外引腳因濕氣引起之電離效應(yīng),會造成離子遷移不正常生長,而導致引腳之間發(fā)生短路現(xiàn)象。 濕氣造成封裝體內(nèi)部腐蝕:濕氣經(jīng)過封裝過程所造成的裂傷,將外部的離子污染帶到芯片表面,在經(jīng)過經(jīng)過表面的缺陷如:護層針孔、裂傷、被覆不良處、、等,進入半導體原件里面,造成腐蝕以及漏電流、、等問題,如果有施加偏壓的話故障更容易發(fā)生。
油墨pct高壓壽命老化試驗機滿足標準:
1、iec60068-2-66
2、jesd22-a102-b
3、eiajed4701
4、eia/jesd22
5、gb/t2423、40-1997
油墨pct高壓壽命老化試驗機技術(shù)優(yōu)勢:
1.高壓加速老化試驗機獨家采用全自動補充水位之功能,試驗永不中斷、
2.試驗過程的溫度、濕度、壓力,是真正讀取相關(guān)傳感器的讀值來顯示的,而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的,能夠真正掌握實際的試驗過程。
3.干燥設(shè)計,試驗終止采用電熱干燥設(shè)計確保測試區(qū)(待測品)的干燥,確保穩(wěn)定性。
4.精準的壓力/溫度對照顯示,完全符合溫濕度壓力對照表要求。
艾思荔的主營產(chǎn)品有:高壓加速老化試驗機,hast高度加速壽命試驗機,可程式恒溫恒濕試驗箱、高低溫熱濕試驗箱、步入式恒溫恒濕試驗室、高低溫試驗箱、快速溫變高低溫試驗機、冷熱沖擊試驗箱、溫度沖擊箱、鹽霧試驗機、鹽干濕復合鹽霧試驗機、老化試驗箱、高溫干燥箱、高溫烤箱、uv紫外線耐氣候試驗機、真空烤箱等可靠性環(huán)境試驗設(shè)備以及制程設(shè)備,有數(shù)十個系列近百種產(chǎn)品。
確保質(zhì)量是艾思荔生存的前提和發(fā)展的保證。艾思荔只有提供滿足客戶需求的優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品和服務(wù),才能在激烈競爭中贏得市場,贏得客戶,為公司贏得更大的發(fā)展空間。更多艾思荔檢測儀器高壓加速老化試驗機相關(guān)詳情請聯(lián)系我們
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